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C测试仪3504-60

  • 更新时间:  2021-03-20
  • 产品型号:  
  • 简单描述
  • C测试仪3504-60产品介绍
    封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
    高速测量2ms
    能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
详细介绍

C测试仪3504-60产品介绍
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
对应测试线,比较器功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误,提高成品率
输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

C测试仪3504-60基本参数

测量参数

Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ

测量范围

C:0.9400pF20.0000mF
D:0.000011.99000

基本精度

(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
测定精度= 基本精度× B× C× D× E, BE为各系数

测量频率

120Hz, 1kHz

测量信号电平

恒压模式: 100mV (3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:
170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV:
170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V:
70μF 量程 (测量频率 1kHz), 700μF 量程 (测量频率 120Hz)

输出电阻

CV测量范围以外的开路端子电压模式时)

显示

发光二级管 6位表示,满量程计算器根据量程而定)

测量时间

典型值: 2.0 ms 1 kHz, FAST
测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

功能

BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 110VA

体积及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1

 


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