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hioki 3535 LCR测试仪

  • 更新时间:  2021-03-20
  • 产品型号:  hioki 3535 LCR测试仪
  • 简单描述
  • hioki 3535 LCR测试仪
    100kHz~120MHz的宽频带

    高速LCR仪,采样率可高至120MHz

    高速LCR测试(6ms/采样)

    拆卸式前置放大器可选择

    为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
详细介绍

hioki 3535 LCR测试仪

  • 100kHz~120MHz的宽频带

  • 高速LCR仪,采样率可高至120MHz

  • 高速LCR测试(6ms/采样)

  • 拆卸式前置放大器可选择

  • 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能

hioki 3535 LCR测试仪的基本参数

测量参数

|Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)

前置放大器
决定的测量量程

前置放大器

9700-01

9700-02

9700-03

Z和R

100mΩ~1kΩ

500Ω~10kΩ

5kΩ~100kΩ

C

1.33pF~15.9μF

0.133pF~3.18nF

0.1pF~318pF

L

1nH~1.59mH

663nH~15.9mH

6.63μH~159mH

θ

-180.00°~180.00°

测量频率

量程

100kHz~120MHz

分辨率设置

4位(使用前控制板设置)

100.0kHz~1.000MHz

100Hz幅度

1.000MHz~10.00MHz

1kHz幅度

10.00MHz~100.0MHz

10kHz幅度

100.0MHz~120.0MHz

100kHz幅度

使用GP-IB或RS-232C接口时,分辨率为1Hz。

精度

zui大±0.005%,相对于设置值

测量电平

开路接口电压(V)
和恒压(CV)模式

5mV~1V,zui大20mA(10.000MHz以下)
5mV~500mV,zui大10mA(10.01MHz以上)

分辨率

1mV幅度

精度

±(5%+5mV)×(2+log f)(f为MHz数)

恒流(CC)模式

200μA~20mA,zui大1V(10.00MHz以下)
200μA~10mA,zui大0.5V(10.01MHz以上)

分辨率

10A幅度

精度

±(10%+50μA)×(2+log f)(f为MHz数)

基本精度

Z:±0.5%rdg. θ:±0.3°

输出阻抗

50Ω±10Ω(100kHz时)

监视

电压 0.000V~1.000V
电流 0.000mA~20.0mA

限制

电流(设置为V或CV) 0.20mA~20.00mA
电压(设置为CC) 0.005V~1.000V

平均

关,2,4,8,16,32,64

触发

内置触发器,外置触发器
触发延时 0.01s~9.99s;0.01s分辨率

比较

可得到两组测量参数:百分比,△%,或值设置(△%即显示测量值
与标准值的偏差)

控制盘存储和调用

zui多30组

屏幕显示

测量值和比较器的判断结果

显示线数

可设置成3,4,或5;根据参数可能有所不同

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)

接口

GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)

操作环境

10~40°C,zui大80%rh,无凝结

仓储环境

-10~55°C,zui大80%rh,无凝结

供电电源

交流100V~240V,50/60Hz,约50VA

体积及重量

约360宽×130高×360厚(mm);8.3kg


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