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菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪

  • 更新时间:  2017-05-27
  • 产品型号:  菲尼克斯Surfix Pro S
  • 简单描述
  • 菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪SurfixProS膜厚计量程:0~10mm 精度:0.1μm,见测头参数
    5.带RS-232接口,背景光 .可连小打印机
详细介绍

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪

Surfix Pro S 专业级测厚仪 膜厚仪 膜厚计
品牌:菲尼克斯 型号:Surfix Pro S 产地:德国 
1.强大数据处理功能.分500组存储1万个测值,特快反应速度
2.同屏显示各统计值,配合7种测头
3.可测铁基体和有色金属基体上的镀层和绝缘涂层
4.SurfixProS膜厚计量程:0~10mm 精度:0.1μm,见测头参数
5.带RS-232接口,背景光 .可连小打印机 
6.探头需另选购

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪技术参数

型号Surfix S膜厚仪
探头连接方式插拔式连线探头
探头选择多种探头可选
测量范围根据探头而定,zui大可达10mm
测量精度±(1µm+ 0.7%读数)
zui高分辨率0.1µm
统计功能平均值、标准偏差、zui大zui小值(zui高到10000个读数)
通讯功能可接PC机或专用打印机(另配红外适配器)
zui小测量面积5X5mm
zui小测量厚度铁磁性基体0.2mm 非铁磁性基体0.05mm
尺寸、重 量(不含探头)137mmX66mmX23mm(不含探头)、重225g
符合标准DIN、ISO、ASTM、BS

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪可选探头:

探头型号用途测量范围
FN1.5磁感应与涡流法两用0~1500µm
FN0.2 磁感应与涡流法两用 0~200µm
FN3.5磁感应与涡流法两用0~3500µm
F10磁感应法0~10000

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