菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪
Surfix Pro S 专业级测厚仪 膜厚仪 膜厚计
品牌：菲尼克斯 型号：Surfix Pro S 产地:德国
1.强大数据处理功能.分500组存储1万个测值,特快反应速度
2.同屏显示各统计值，配合7种测头
3.可测铁基体和有色金属基体上的镀层和绝缘涂层
4.SurfixProS膜厚计量程：0~10mm 精度：0.1μm，见测头参数
5.带RS-232接口,背景光 .可连小打印机
6.探头需另选购
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪技术参数
| 型号 | Surfix S膜厚仪 |
| 探头连接方式 | 插拔式连线探头 |
| 探头选择 | 多种探头可选 |
| 测量范围 | 根据探头而定，zui大可达10mm |
| 测量精度 | ±（1µm+ 0.7%读数） |
| zui高分辨率 | 0.1µm |
| 统计功能 | 平均值、标准偏差、zui大zui小值（zui高到10000个读数） |
| 通讯功能 | 可接PC机或打印机（另配红外适配器） |
| zui小测量面积 | 5X5mm |
| zui小测量厚度 | 铁磁性基体0.2mm 非铁磁性基体0.05mm |
| 尺寸、重 量（不含探头） | 137mmX66mmX23mm（不含探头）、重225g |
| 符合标准 | DIN、ISO、ASTM、BS |
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪可选探头：
| 探头型号 | 用途 | 测量范围 |
| FN1.5 | 磁感应与涡流法两用 | 0～1500µm |
| FN0.2 | 磁感应与涡流法两用 | 0～200µm |
| FN3.5 | 磁感应与涡流法两用 | 0～3500µm |
| F10 | 磁感应法 | 0～10000 |
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