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梅特勒XPE205分析天平

梅特勒XPE205分析天平提供出色的分析称量性能,并提供至高称量安全性、*称量效率且易于合规。 梅特勒 XPE205 分析天平重复性误差小,因此提供zui低的zui小称量值

  • 产品型号:XPE205电子天平
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2021-03-20
  • 访  问  量:4873
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联系电话:13760205028

详细介绍

梅特勒XPE205分析天平

梅特勒XPE205 分析天平提供出色的分析称量性能,并提供至高称量安全性、*称量效率且易于合规。 梅特勒 XPE205 分析天平重复性误差小,因此提供zui低的zui小称量值。质量管理特征,例如创新的状态指示灯和获得的 StaticDetect 技术,可免除您在称量方面的担忧并获得值得信赖的结果。凭借各种附件和多个连接选项,梅特勒 XPE205分析天平可满足您日益增长的需求。 您可在今后的许多年中实现丰富的称量应用。 瑞士设计与制造,出色的质量值得您信赖。

梅特勒XPE205分析天平提供以下智能称量功能:
• 包括状态指示灯在内的新型彩色显示屏,具有警告功能
• 获得的 StaticDetect 功能
• 新的静电消除技术
• TestManager™ 用于轻松的日常测试
• 性能更出色的网格秤盘
• LabX® 软件用于当前在屏幕上提供定制的工作流程指南
梅特勒XPE205分析天平技术规格
处理能力zui高为 520g,可读性为 0.01mg/0.1mg
*性能
USP41 的zui小重量可精确到 14 mg
无需触摸操作
称量,去皮,自动开关门 – 减少污染
无缝过程
RFID 选项;LabX:自动数据处理,SOP 指南
*的清洁流程
快速拆除称量室,可在洗碗机中安全清洗
天平管理应用程序
StatusLight™:天平水平,测试已完成,可随时称量
静电解决方案
自动静电检测,紧凑式离子发生器XP504DR 分析天平

梅特勒 XPE205 分析天平 技术参数

产品

量程

可读性

zui小称量值 (USP),典型值

重复性

线性误差(典型值)±

XPE105分析天平

120.0 g

0.01 mg

14.0 mg

0.015 mg

0.1 mg

XPE204

220.0 g

0.1 mg

80.0 mg

0.05 mg

0.2 mg

XPE205

220.0 g

0.01 mg

14.0 mg

0.015 mg

0.1 mg

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