深圳市时代之峰科技有限公司为您提供仪器仪表等相关资讯!
产品详情PRODUCT ARTICLE
首页 > 产品中心 > > > Webster BWebster B韦氏硬度计检测方法

Webster B韦氏硬度计检测方法

  • 更新时间:  2021-03-20
  • 产品型号:  Webster B
  • 简单描述
  • Webster B韦氏硬度计检测方法,韦氏硬度检测方法起源于美国,由美国Webster公司生产Webster B韦氏硬度计。韦氏硬度计早在20世纪80年代就随铝型材生产线的引进而进入我国。由于其使用上的特点,应用逐年增多,且国内已能生产品质优良的韦氏硬度计。现在已有韦氏硬度计计量检定规程“金属韦氏硬度计
详细介绍

Webster B韦氏硬度计检测方法

韦氏硬度检测方法起源于美国,由美国Webster公司生产Webster B韦氏硬度计韦氏硬度计早在20世纪80年代就随铝型材生产线的引进而进入我国。由于其使用上的特点,应用逐年增多,且国内已能生产品质优良的韦氏硬度计。现在已有韦氏硬度计计量检定规程“金属韦氏硬度计JJG944―1999(试行)”和有色金属行业标准《铝合金韦氏硬度试验方法》YS/T420—2000和YS/T471—2004《铜合金韦氏硬度试验方法》标准。但有关韦氏硬度的技术资料介绍较少。

韦氏硬度计原理
  韦氏硬度计的基本原理是采用一定形状的淬火压针,在标准弹簧检测力作用下压入试样表面,定义0.0lmm的压入深度为一个韦氏硬度单位。材料的硬度与压入深度成反比。压入越浅硬度越高,压入越深硬度越低。
Webster B韦氏硬度计检测方法计算公式
  HW=20-L/0.01   (8—1)
  式中: HW——韦氏硬度符号;
      L——压针伸出长度,即压入试样深度/mm;
      0.01——定义值/mm
  硬度值的表示:如压针只压入深度0.05mm,表头指针将指示在15刻度。表示为HW=20-5=15单位硬度值,将其书写于硬度符号之前,即为15HW。
Webster B韦氏硬度计检测方法结构
Webster B韦氏硬度计检测方法全貌见图1,

其结构见图8―2
韦氏硬度计

压针形状见图8―3
韦氏硬度计

如图所示,硬度计由以下三个主要部件组成:框架、手柄、压针组件。压针组件包括压针、负荷弹簧、调节螺母、压针套筒、复位键、复位弹簧、表头等。压下手柄时,压针组件作为一个整体移向砧座。

在压下手柄过程中,压金组件移向被测件,压针*首先与被测件接触。继续压紧手柄,会使压针一部分刺入被测件,另一部分向后退入压针套筒内,并与负荷弹簧的弹力相作用。

当压针套筒的端面与被测件相抵时,即可感到已触到底,此时表头指针将指到一个硬度读数,这就是被测件的硬度值。

硬度计的表头安装在压针套筒的上端,指针由压针的移动来驱动。对于特别硬的金属,压针将全部退入压针套筒,直至其*与压针套筒端面平齐。这是压针的zui大行程位置,指针会指到20。对于特别软的金属,压针*将全部压入金属中,而不会向压针套筒内移动,这时表头指针将保持在zui低位置不变。

韦氏硬度计技术参数见表
韦氏硬度计

韦氏硬度计校准
  1.标准硬度片
  1)韦氏硬度计应配备标准硬度片,用于校准。
  2)标准硬度片的工作面应标明韦氏硬度值和E标尺的洛氏硬度值。
  2.校准要求
  1)硬度计的满刻度校准值为20HW,允许误差为±0.5HW。
  2)用标准硬度片校准硬度计,读数应符合硬度片标明的硬度值,其允许误差±0.5HW。
韦氏硬度计检测方法

 1)将试样置于砧座和压针之间,压针应与检测面垂直,如图8—4所示。轻轻压下手柄,使压针压住试样。
2)快速压住手柄,施加足够的力,使压针套筒的端面紧压在试样上,从表头读出硬度值(精确到0.5HW)。超出限度的压力下,会被弹簧平衡掉,不会损坏硬度计。
  3)再次测量时两相邻压痕中心间距离应不小于6mm。
  4)在测量较软金属时,表头指针会瞬间达到某一数值,随后可能会稍有下降,此时测量以观察到的zui大值为准。
  5)在一般情况下,每个试样至少测量3个点。以测量值的算数平均值作为试样硬度值,计算结果修约到0.5HW


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
相关产品RELATED PRODUCT
13760205028
地址:深圳市福田区深南中路3037号 南光捷佳大厦2601
© 2018 深圳市时代之峰科技有限公司专业供应销售Webster B韦氏硬度计检测方法系列产品,欢迎来咨询更多信息。

版权所有 总访问量:302898

备案号:粤ICP备09197511号 技术支持:仪表网